Hallo Christian,
Also meine Erfahrungen mit Leistungselektronik sind eher
durchwachsen. Aber ich habe mal einen defekten commerziellen
Wechselrichter unter die upe genommen. Dort war wie
beschrieben eine Reihe von MOSFETs die entsprechend durch eine
Logikschaltung angesteuert waren eingebaut. Die haben dann
dieses stufenförmige Signal geliefert. Zumindest war das
einwandfrei auf dem Oszi zu erkennen. Die Leistungsbauteile
sind in der Regel auch etwas größer als die anderen
Elektronikteile für TTL-Basis. Vielleicht Relais und so, aber
das erkennt man ja meist. Also viel mehr als diese MOSFETs war
darum auch nicht zu erkennen, dass große Leistungen schaltet.
Da waren noch eine Hand voll Widerstände und zwei größere
Elkos. Also ich stelle mir das echt nicht so schwierig vor.
Wie meist im Leben, ist fast alles was einfach aussieht, meist sehr schwierig.
Bereits bei einem Netzteil bestehend aus Trafo, Brückengleichrichter und Elco kann man jede Menge Fehler machen.
Ein einfacher Draht besitzt, neben dem Ohmschen Widerstand, noch eine Induktivität und eine Kapazität (gegen den Rest der Welt). Bei einem Trafo sind diese Werte schon um einiges grösser.
Eine SChaltung aus Widerstand, Kapazität und Induktivität, nennt man Schwingkreis. Normalerweise ist das nicht so tragisch, aber wenn du grosse Strome mit Steilen Flanken kombinierst, haben die Oberwellen auch recht Energie, und damit beginnen die Probleme.
Eines der Hauptprobleme ist meist der Schwingkreis welcher sich aus der Source-Drain-Kapazität ergiebt. Die Gate-Kapazität, zusammen mit dem Innenwiederstand der Ansteuerschaltung, bestimmt meist die Flankensteilheit und somit auch die Oberwellen, welche erzeugt werden.
Ein Problem besteht nun darin, die Oberwellen und die Resonanzfrequenzen so festzulegen, dass sich das Ganze nicht aufschaukelt. Dabei spielt der Aufbau des Trafos und das Layout der Schaltung schon eine grosse Rolle.
Wir hatten vor etwa 10 Jahren einmal das Problem bei einem primär getakteten Netzteil (ca. 10 Watt), dass Hitachi den von uns verwendeten FET „verbessert“ (Die-Shrink und ein anderer Process) hat. Danach starben unse FETs gleich reihenweise, als Problem stellte sich die durch den Prozess-Wechsel veränderte Darin-Source-Kapazität heraus. Auch der von Hitachi vorgeschlagene Ersatztyp funktionierte nicht, also blieb uns nur übrig die ganze Stufe komplett neu zu dimensionieren.
MfG Peter(TOO)