Wer kann helfen,
mit welchem Verfahren (Stresstest) kann man elektronische Schaltungen (hauptsächlich CPU-Platinen) altern, um die Zeit bis zum ersten Ausfall (MTBF) einigermaßen annähernd zu bestimmen ?
M. f. G.
Robin
Es gibt da unterschiedliche Verfahren:
- nur Temperatur heiss und kalt an der Grenze oder auch darüber, lange gleich oder abwechselnd, Temperaturschocks (schnelle Wechsel) usw.
- Vibrationen in einzelne Richtungen oder Kombiniert
- elektrische Parameter wie Spannung und Strom an ihrer Grenze oder auch darüber hinaus
Meistens werden Kombinationen der oben genannten Verfahren angewandt. Der Stress, dem die bauteile ausgesetzt sind lässt diese schneller altern. Wobei zum Beispiel EEPROMs beschrieben und gelesen werden an ihren Temperaturgrenzen um so Frühausfälle zu erkennen.
Das Internet bietet da bestimmt mehr. Oder auch noch die gute alte Bibliothek (auch und speziell die UNIs).
Bis dahin
Tino
Hi Robin,
durch erhöhte Umgebungstemperatur und starke Temperaturschwankungen.
Gruß Patrick