Fehlerberechnung für komplette Messreihe

Hallo zusammen,

nun ich habe folgendes Problem;
Ich habe eine große Menge an Messdaten und will diese nun statistisch auswerten. Der Umfang der Daten besteht aus über 10 Messreihen mit jeweils über 12 unterschiedlichen Messoptionen;
z.B.: Messreihe 1: Eingangsspannung 5V --> Messergebnis 32,4 Ohm
" 10V --> " 65,7 Ohm
" "
" "
" 120V --> " 475 Ohm
Messreihe 2: Eingangsspannung 5V --> Messergebnis 32,9 Ohm
" 10V --> " 65,3 Ohm
" "
" 120V --> " 475,2 Ohm
…usw.

Ich hab für jede Messreihe und für die kompletten Messreihen zusammen die Standardabweichung und den Mittelwert ermittelt. Nun wollte ich aber auch den absoluten und den relativen Fehler für jede Messreihe aber auch den kompletten Fehler angeben!

x(abs) = x(i) - x(ref) wobei

x(abs)=absoluter Fehler; x(i)=Messwert; x(ref)=Referenzwert
darstellen sollen.
Der Fehler für jeden einzelnen Messwert is ja noch klar, nur wie geht das mit dem kompletten Fehler, also der Fehler für 1. Messreihe 5V & 2. Messreihe 5V & 3. Messreihe 5V usw… (das ganze auch für 10V - 120V)?? Muß ich die Werte einfach mitteln und aus dem Mittel die Fehlerberechnung machen? Da steh ich irgendwie auf em Schlauch! :frowning:

MfG
Jürgen

Moin,

beschreibe die Messung bitte erstmal genauer. Was sind „Messoptionen“?
Was unterscheidet die 10 Messreihen? Ist es dasselbe Objekt/dieselbe Probe oder nicht? Müsste theoretisch immer dasselbe rauskommen oder nicht? Worüber hast Du gemittelt?

Ich hab für jede Messreihe und für die kompletten Messreihen
zusammen die Standardabweichung und den Mittelwert ermittelt.

Wie gesagt, ich verstehe es nicht…

Olaf

Hallo,

Kurz: Siehe Olafs Antwort.

Lang (allgemeine Begründung!):

Statistik ist ein Werkzeug, das aus vielen Werten wenige Werte macht, um damit bestimmte Informationen zu verdeutlichen, die man den vielen Werten direkt nicht ansehen würde.

Nun läßt die Mathematik (also auch die Statistik) alles an Verrechnungen zu - dabei muss sie sich nicht an Gegebenheiten der realen Welt halten.

Eine SINVOLLE Interpretation der Ergebnisse ist also überhaupt nur möglich, wenn die Verfahren der [statistischen] Datenauswertung sich an diese „realen Gegebenheiten“ halten. Will heißen: Sie müssen der Fragestellung und der experimentellen Gewinnung der Daten angemessen sein.

Eine sinvolle statistische Analyse ist also ohne GANZ GENAUE Kenntnis der Fragestellung UND der experimentellen Durchführung praktisch nicht möglich (vielleich bis auf ein paar Ausnahmen sehr einfacher Experimente bzw. Fragestellungen).

Eigentlich ist auch die Interpretation statistischer Ergebnisse ohne diese Kenntnisse nicht möglich. Das ist DER Grund, warum man mit Statistik überhaupt „lügen“ kann - weil eben nur die Ergebnisse betrachtet werden ohne Kenntnis darüber, was genau die Fragestellung war und wie die Daten genau erhoben wurden.

Das war eine riesig lange Begründung, warum Olaf absolut Recht hat, wenn er nachfragt, was wie wo wann und warum gemessen wurde. In diesem Forum werden häufig Fragen nach einer statistischen Auswertung gestellt, ohne die vollständige Beschreibung der Fragestellung und der experimentellen Durchführung. Das zeigt IMHO, dass meist grundlegende Probleme bzw. Missverständnisse bei statistischen Auswertungen bestehen. Einen Mittelwert zu berechnen, nur weil andere das auch machen, ist eben im besten Falle nur halb richtig.

LG
Jochen

Hi,

also der Messaufbau ist für alle Messreihen der gleiche! Das einzige was sich unterscheidet ist die angelegte Spannung an die Schaltung! Ich habe also über 10 Messreihen, mit gleichem Aufbau, und arbeite mich in jeder Messreihe von 5-120V durch. Messreihe 1 = Messreihe 2 = Messreihe 3 … Jede Messreihe wurde an einem anderen Tag durchgeführt, um somit eine Abweichung des Systems (hier Schaltkomponenten) feststellen zu können.
Ich will also rausfinden wie genau und beständig meine Schaltung arbeitet.
Den Mittelwert und die Standardabweichung hab ich dann für 5V (Messreihe 1-10), für 10V (Messreihe 1-10), für 20V (Messreihe 1-10), …usw. ermittelt.
Mein Problem: wie berechne ich den Fehler für 5V (Messreihe 1-10), für 10V (Messreihe 1-10), für 20V (Messreihe 1-10), …usw.???

[Bei dieser Antwort wurde das Vollzitat nachträglich automatisiert entfernt]

Hallo,

ganz verstehe ich es immer noch nicht, was jetzt der Unterschied zwischen 5V und 10V usw. ist. Sollte da nun theoretisch dasselbe rauskommen? Wenn nicht (was ich vermute), dann kannst Du die Fehler dieser Messungen auch schlecht zusammenfassen. Du müsstest also einen Fehler für die 5V-Messung angeben, einen für die 10V-Messung usw. Natürlich kannst Du rein rechnerisch auch davon einen Mittelwert bilden. Und der hat auch eine gewisse Aussagekraft. Allerdings nur, wenn Du immer dazusagst, wie Du ihn berechnet hast, siehe Jochens Antwort.
Sinnvoller wären wahrscheinlich Aussagen wie „am genauesten waren die Messungen bei 50V, dort waren die Schwankungen am kleinsten“ usw.

Olaf

Hi,

aaalso, ich glaube dich hat eher dieses V irritiert, wie ich aus dem Schreiben erkenne?! Das V ist nichts anderes als die Einheit der elektrischen Spannung, also 5 Volt oder 10 Volt.
Meine Aufgabe bestand darin, jeden Tag (1 Tag = 1 Messreihe)an eine bestimmte elektrische Schaltung (Platine), Spannungen von 5 Volt bis 120 Volt (ab 10 Volt in 10er Schritten) anzulegen. Somit sollte die Schaltung (Platine) einer Genauigkeitsprüfung unterzogen werden.

Beispiel für 5 Volt:
1.Tag (1. Messreihe)= Messwert 22,5 Ohm
2.Tag (2. Messreihe)= Messwert 22,7 Ohm
3.Tag (3. Messreihe)= Messwert 22,1 Ohm
.
.
.
10.Tag (10.Messreihe)= Messwert 22,9 Ohm

Das gleiche in grün mit den 10 Volt, 20 Volt… bis 120 Volt!

Es sollte theoretisch immer der selbe Messwert rauskommen, was aber im praktischen Versuch nicht der Fall war (s.o)!

Def. Fehler; Die Abweichung eines Wertes vom Bezugswert (Referenzwert), z.B. die Differenz zwischen Messwert und Mittelwert.

Mein Problem; bei den 5 Volt Messungen (aber auch bei den 10 Volt…120 Volt) jeden Tag hab ich insgesamt ja mehr als einen Messwert, genauergesagt sind es 10 Werte! Ich will aber einen Fehler angeben, der sich auf alle diese 10 Werte bezieht, also einen Gesamtfehler für 5V, 10V, 20V, usw…120V! Ich wollte also später im Bericht schreiben: „Die Messwerte bei 5 Volt haben einen Fehler von ??? Ohm“. Geht sowas überhaupt?

P.S.:

Sinnvoller wären wahrscheinlich Aussagen wie „am genauesten
waren die Messungen bei 50V, dort waren die Schwankungen am
kleinsten“ usw.

Hmm, diese Idee is natürlich auch sinnvoll, danke für den Tip!

Tag auch,

ich würde die Standardabweichnung als Maß der Abweichnung voschlagen.

Der Vieux

Hallo Jürgen,
nach deinen Erklärungen weiter unten, glaube ich nun zu wissen, was du eigentlich willst …
Also: Du hast eine Messreihe mit N=10 Messwerten (eigntlich hast du mehrere, aber die sollen getrennt ausgewertet werden, das speilt also gar keine Rolle).

Aus den N Werten x_1, X_2 … X_N („Stichprobe“) berechnest du erst mal Mittelwert und Standardabweichung s, z.B. mit Tabellenkalkulation (in EXCEL mit =stabwa(…) ).
Wichtig : Die Formel mit „N-1“; die EXCEL-Hilfe sagt dazu (ausnahmsweise brauchbar) „Schätzt die Standardabweichung ausgehend von einer Stichprobe“
SIehe dazu: http://de.wikipedia.org/wiki/Standardabweichung#Sch…

Hättest du nun 25 oder mehr Werte, dann wäre das ganze recht einfach. Aus s berechnest du den „Standardfehler“ oder die „Standardabweichung des Mittelwertes“ zu s_m = s/sqrt(N) und hast, was du suchst:
http://de.wikipedia.org/wiki/Standardfehler

Dein Problem nun: Du bräuchtest eigentlich die Standardabweichung sigma der „Grundgesamtheit“, hast aber als Schätzung dafür nur die Standardabweichung s der Stichprobe, die mit N=10 noch recht lausig ist.
Die Unsicherheit in der s-Bestimmung wird berücksichtigt, wenn du noch den t-Faktor dranmultiplizierst. Der Standardfehler wird also um „t“ vergrößert. t berücksichtigt aber auch, dass man evtl. eine größere statistische Sicherheit wünscht (bei einer Normalverteilung sind ja nur ca. 68% der Werte innerhalb des Intervalls ± 1 sigma).

„t“ musst du in Tabellen nachsehen, es hängt vom Stichprobenumfang N und von der gewählten Vertrauenswahrscheinlichkeit ab, siehe
http://de.wikipedia.org/wiki/Vertrauensintervall
http://de.wikipedia.org/wiki/T-Verteilung

Der unbekannte wahre Wert liegt dann mit der gewählten
Vertrauenswahrscheinlichkeit im Intervall
(x_quer - t*s/sqrt(N),x_quer + t*s/sqrt(N) )

Gruß Kurt

Hallo nochmal,

du hast ZWEI _mögliche_ Fehlerquellen:

  1. der Fehler der eigentlichen Messung
  2. der Datums-bedingte Fehler

Der 2. Fehler ist wichtig, wenn das Messgerät zwar sehr präzise mißt, aber von Tagesschwankungen abhängt, weil der Messprozeß von der Temperatur, Luftfeuchtigkeit oder was-weiss-ich gestört wird.

Wenn beides eine Rolle spielen kann, muss das Experiment mit entsprechenden Widerholungen (mehrere Messungen am selben Tag UND Messungen and mehreren Tagen) designt werden.

Man könnte solche Designs dann mit einer mehrfaktoriellen ANOVA mit Messwiederholung auswerten oder eben mit einem allgemeinen linearen Modell. Dabei bekommt man Schätzungen für beide Fehler.

Im Prinzip hast du sowas, weil ja an einem Tag mehrere Messungen gemacht wurden (nur eben bei versch. Spannungen). Eigentlich müsste es also so auszuwerten sein.

LG
Jochen

Hallo Kurt,

Also: Du hast eine Messreihe mit N=10 Messwerten
(eigntlich hast du mehrere, aber die sollen getrennt
ausgewertet werden, das speilt also gar keine Rolle).

Doch, das spielt sehr wohl eine Rolle. Es kann einen Mess-Fehler geben UND einen Messreihen-Fehler UND beide Fehlertypen können interagieren. Eine getrennte Analyse ignoriert das alles. Das Experimentdesign spricht doch dafür, dass eben ganau das auch untersucht werden sollte.

Die Unsicherheit in der s-Bestimmung wird berücksichtigt, wenn
du noch den t-Faktor dranmultiplizierst.

Das ist falsch. Aber vollkommen. Die s-Werte sind garnicht t-Verteilt! Die t-Verteilung braucht man, um ein Konfidenzintervall für den MITTELWERT zu berechnen, und nicht um s-Schätzung zu verbessern.

Der Standardfehler wird also um „t“ vergrößert.

Nein, wird er nicht! Der Standardfehler ist und bleibt der Standardfehler (bzw. die Schätzung desselben). Aus dem zentralen Grenzwertsatz folgt, dass die geschätzten Mittelwerte um den wahren Mittelwert streuen, und zwar normalverteilt mit dem Standardfehler als Standardabweichung. Der Quotient aus (Mittelwert-wahren Mittelwert) und wahrem Standardfehler ist standardnormalverteilt. Der wird aber durch den GESCHÄTZTEN Standardfehler geteilt, der ja seinerseits eine Verteilung besitzt, ist der Quotient nicht mehr standardnormalverteilt, sondern t-Verteilt. Die Form der t-Verteiung ist dabei abh. von der Güte der Schätzung des Standardfehlers. Je besser der Standardfehler bestimmt wird, desto mehr ähnelt die t-Verteilung der Standardnormalverteilung.

Die ganze t-Verteilungsgeschichte braucht man nur zur Bestimmung von Konfidenzintervallen für den wahren Mittelwert. Natürlich kann man auch Konfidenzintervalle für die Standardabweichung berechnen, aber dazu braucht man den Kehrwert der Chi²-Verteilung.

LG
Jochen

Hallo Jochen!

Also: Du hast eine Messreihe mit N=10 Messwerten
(eigntlich hast du mehrere, aber die sollen getrennt
ausgewertet werden, das speilt also gar keine Rolle).

Doch, das spielt sehr wohl eine Rolle.

Für den Ausgangsfragesteller: Nein!
Jürgen hat irgend eine elektronische Schaltung, an der er irgendwelche Messungen macht. Genaueres wissen wir nicht. Er macht diese Messungen an verschiedenen Tagen, bei versch. Temperatur oder was weiß ich. Dabei kann er bei verschiedenen Spannungen messen und erhält als Messgröße einen Widerstand. Dieser hängt irgndwie von der Spannung ab (wie wissen wir nicht). Es gibt jedenfalls offensichtlich keinen Zusammenhang R=R(U), den wir irgendwie testen müssten.
Ziel ist es, zu sehen wie stabil das Teil läuft und welche Mittelwerte herauskommen (so wie ich es verstanden habe: einfach punktweise, bei Spannung x ist der mittlere Messwert für den Widerstand y ± …).

Ob Jürgen dabei die Messbedingungen in ausreichender Weise variiert hat, so dass er eine praxisrelevante Aussage über die Streuung bekommt, das kann ich nicht beurteilen. Das muss er oder sein Betreuer entscheiden.

Jürgen hat also für jede eingestellte Spannung eine Messreihe aus den an versch. Tagen etc. gemessenen Werten. Gesucht ist dann ein Maß für die Streuung der Messreihe (dafür gibt’s bekanntlich die Standardabweichung der Stichprobe) und ein Konfidenzintervall für den Mittelwert aus den gemessenen Werten. Und zwar das Ganze für jeden Spannungswert aus seiner Liste getrennt, ohne Zusammenhang zwischen diesen.

Die Unsicherheit in der s-Bestimmung wird berücksichtigt, wenn
du noch den t-Faktor dranmultiplizierst.

Das ist falsch. Aber vollkommen. Die s-Werte sind garnicht t-Verteilt!

Hab’ ich nicht behauptet! Ich habe geschrieben: Hätte er VIELE Werte , dann könnte er ein Konfidenzintervall (für „68%“, enspr. 1 Std.-Abw. bei der Normalverteilung) als x_quer ± s_m angeben, da dann s eine gut Näherung für sigma ist (mit vernachlässigbarer Streuung).
Weil er aber eine recht kleine Stichprobe (N=10) hat, kann er das nicht und muss beim Konfidenzintervall „t“ berücksichtigen!

Die t-Verteilung braucht man, um ein
Konfidenzintervall für den MITTELWERT zu berechnen, …

Einverstanden. Wenn du weiter gelesen hast, hast du ja gesehen, das ich genau das schreibe!

und nicht um s-Schätzung zu verbessern.

Hat auch keiner behauptet!

Der Standardfehler wird also um „t“ vergrößert.

Ich sollte für Dich vielleicht noch ergänzen :
… um die halbe Breite des Konfidenzintervallsa zu erhalten!!!
Ich glaubte aber, der Fragesteller versteht das auch so, vor allem, weil gleich danach das Intervall ja angegeben wurde.

Nein, wird er nicht! Der Standardfehler ist und bleibt der
Standardfehler (bzw. die Schätzung desselben). Aus dem
zentralen Grenzwertsatz folgt, dass die geschätzten
Mittelwerte um den wahren Mittelwert streuen, und zwar
normalverteilt mit dem Standardfehler als Standardabweichung.
Der Quotient aus (Mittelwert-wahren Mittelwert) und wahrem
Standardfehler ist standardnormalverteilt. Der wird aber durch
den GESCHÄTZTEN Standardfehler geteilt, der ja seinerseits
eine Verteilung besitzt, ist der Quotient nicht mehr
standardnormalverteilt, sondern t-Verteilt. Die Form der
t-Verteiung ist dabei abh. von der Güte der Schätzung des
Standardfehlers. Je besser der Standardfehler bestimmt wird,
desto mehr ähnelt die t-Verteilung der
Standardnormalverteilung.

Prima, das Gleiche (etwas weniger „theoretisch“ ausgedrückt) wollte ich sagen, wobei dem Fragesteller wohl die statistische Theorie nicht interessierte …

Die ganze t-Verteilungsgeschichte braucht man nur zur
Bestimmung von Konfidenzintervallen für den wahren Mittelwert.

Siehe mein Posting! Das war übrigens das, war Jürgen wohl wissen wollte!

Natürlich kann man auch Konfidenzintervalle für die
Standardabweichung berechnen, aber dazu braucht man den
Kehrwert der Chi²-Verteilung.

Ja, prima . Aber das wollte der Fragesteller auch nicht wissen.

LG
Jochen

Außerdem: Ich wollte eigentlich nur einigermaßen kurz die Frage beantworten (aber auch nicht nur ein Rezept angeben) und hier kein Statistik-Lehrbuch schreiben. Davon gibt’s schon genug.

Gruß Kurt

Hallo Kurt,

lass mich zur Klarstellung die Ausgangsfrage nochmal rezitieren:

Ich hab für jede Messreihe und für die kompletten Messreihen zusammen die Standardabweichung und den Mittelwert ermittelt. Nun wollte ich aber auch den absoluten und den relativen Fehler für jede Messreihe aber auch den kompletten Fehler angeben!

Es hat überhaupt nicht erklärt,

a) was die Messreihe ist (was ist die Unabhängige: die Tage oder die Spannung) und

b) welchen Fehler er meint (den Fehler des Instruments oder den Fehler des Messzeitpunkts).

Er unterscheidet einen Messreihen-Fehler und einen Komplett-Fehler. Das weist zumindest darauf hin, dass er für beide unabhängigen Faktoren einen Fehler erwartet (macht ja auch Sinn).

Du gehst bei deiner Antwort jedoch stillschweigend davon aus, dass ihn ein Zeitfehler nicht interessiert. Das ist der eine Punkt.

Der andere ist, dass - selbst wenn Du damit Recht hättest - bei deinem Vorschlag jeweils nur die Information eines Teils der Daten genutzt werden. Anhand der Fehler bei 10V und bei 30V zB. kann ich doch auch Rückschlüsse auf den Fehler bei 20V machen. NUR die 20V-Werte zu untersuchen, und getrennt davon NUR die 10V-Werte und getrennt davon NUR die 30V-Werte usw. macht keinen optimalen Gebrauch von den Daten. Erst die Berechnung mit einem Modell, welches die Fehler in Abh. von Spannung UND Zeit ermittelt, nutzt die vorliegenden Informationen optimal.

Naja, und schließlich hat er nach dem Fehler gefragt, und nicht nach dem Fehler des Mittelwertes. Deine Herleitung bezog sich auf die Fehler des Mittelwertes. Die hängen klarerweise ab vom Stichprobenumfang und können somit zu Charakterisierung des Mess-Systems überhaupt nicht brauchbar sein (sei denn, es geht um den speziellen Fall, dass Systeme anhand des selben Protokolls oder zumindest mit gleichen Stichprobenumfängen verglichen werden).

Siehe mein Posting! Das war übrigens das, war Jürgen wohl
wissen wollte!

Genau das sehe ich anders. Ich denke, Jürgen hat keine genaue Vorstellung von dem, was er wissen möchte. Hätte er das, hätte er das Experiment entsprechend design und dann wäre VOR dem Experiment klar gewesen, wie die Daten ausgewertet werden MÜSSEN.

Genau diesen Sachverhalt übergehst du mit deiner Antwort, die eben IMHO (zu)viel unterstellt. Alles _scheint_ klar zu sein, doch trotzdem ist alles ziemlich schief gelaufen.

Außerdem: Ich wollte eigentlich nur einigermaßen kurz die
Frage beantworten (aber auch nicht nur ein Rezept angeben) und
hier kein Statistik-Lehrbuch schreiben. Davon gibt’s schon
genug.

Ja, richtig. Und in den Lehrbüchern hätte dringestanden, dass die Analyse vom Design und der Fragestellung abhängt. Wenn jemand ein Experiment macht, MUSS er sich VORHER darüber im Klaren sein und das beachten.

Offensichtlich werden die Bücher trotz ihrer Menge also zu selten gelesen :wink:

LG
Jochen

Hallo Jochen!


Der andere ist, dass - selbst wenn Du damit Recht hättest -
bei deinem Vorschlag jeweils nur die Information eines Teils
der Daten genutzt werden. Anhand der Fehler bei 10V und bei
30V zB. kann ich doch auch Rückschlüsse auf den Fehler bei 20V
machen. NUR die 20V-Werte zu untersuchen, und getrennt davon
NUR die 10V-Werte und getrennt davon NUR die 30V-Werte usw.
macht keinen optimalen Gebrauch von den Daten. Erst die
Berechnung mit einem Modell, welches die Fehler in Abh. von
Spannung UND Zeit ermittelt, nutzt die vorliegenden
Informationen optimal.

Wenn die Platine einigermaßen komplex ist, dann gibt es ein solches Modell einfach nicht. Dann mus man eben damit leben, jede Messreihe getrennt auszuwerten und hat u.U. wenigstens das Ergebnis, dass dass bei dieser und jener Spannung

a) der Mittelwert so und so ist und in dieser Messreihe mit dieser und jener Genauigkeit bestimmt wurde (aus Konfidenzintervall)

b)die Messwerte so und so stark streuen (aus den Standardabweichungen).

Naja, und schließlich hat er nach dem Fehler gefragt, und
nicht nach dem Fehler des Mittelwertes. Deine Herleitung bezog
sich auf die Fehler des Mittelwertes. Die hängen klarerweise
ab vom Stichprobenumfang und können somit zu Charakterisierung
des Mess-Systems überhaupt nicht brauchbar sein (sei denn, es
geht um den speziellen Fall, dass Systeme anhand des selben
Protokolls oder zumindest mit gleichen Stichprobenumfängen
verglichen werden).

Genau das hat er doch gemacht!

Siehe mein Posting! Das war übrigens das, war Jürgen wohl
wissen wollte!

Genau das sehe ich anders. Ich denke, Jürgen hat keine genaue
Vorstellung von dem, was er wissen möchte. …

Nun, seine Postings sind schon schwierig zu interpretieren …, allergings würde ich eher sagen, er weiß schon, was er wissen möchte, hat aber Probleme, das in der Statistiker-Sprache korrekt zu formulieren. Ich habe außer der urspr. Frage auch die zwei weiteren Postings gelesen und kam zu meiner Interpretation, was der Mann eigentlich braucht. Dabei bin ich eigentlich ziemlich sicher, dass ich richtig liege (ich kenne „solche Pappenheimer“).

… Ja, richtig. Und in den Lehrbüchern hätte dringestanden, dass
die Analyse vom Design und der Fragestellung abhängt. Wenn
jemand ein Experiment macht, MUSS er sich VORHER darüber im
Klaren sein und das beachten.

Ich glaube eher, hier wurde das Exp.-Design vom Betreuer vorgegeben und er hatte den klaren Auftrag, das genau so zu messen, so dass ihn da keine Schuld trifft. Wir kennen beide die Details nicht und sollten uns kein Urteil darüber erlauben, ob die ob das Exp.-Design gut oder schlecht war.

LG
Jochen

Gruß Kurt

Hallo Kurt!

Wenn die Platine einigermaßen komplex ist, dann gibt es ein
solches Modell einfach nicht.

Nee, das kommt eben auf die Fragestellung an. Biologische, Soziale und ökonomische Systeme sind deutlich komplexer als Platinen und man kann dennoch sinnvolle Multivariate Analysen machen.

Dann mus man eben damit leben,

Was muss, das muss. Und manchmal muss man. Da will ich ja auch nicht widersprechen.

Genau das hat er doch gemacht!

Das konnte ich aus der Fragestellung nicht rauslesen.

Nun, seine Postings sind schon schwierig zu interpretieren
…, allergings würde ich eher sagen, er weiß schon, was er
wissen möchte, hat aber Probleme, das in der
Statistiker-Sprache korrekt zu formulieren.

Das mag natürlich auch sein. Es ist aber schwierig, empirische Wissenschaft zu treiben ohne dieses „Werkzeug“.

Ich habe außer der
urspr. Frage auch die zwei weiteren Postings gelesen und kam
zu meiner Interpretation, was der Mann eigentlich braucht.
Dabei bin ich eigentlich ziemlich sicher, dass ich richtig
liege (ich kenne „solche Pappenheimer“).

Hmm, ok. Allerdings läufst du damit Gefahr, dass Du wirklich mal jemand auf die ganz falsche Fährte setzt.

Ich glaube eher, hier wurde das Exp.-Design vom Betreuer
vorgegeben und er hatte den klaren Auftrag, das genau so zu
messen, so dass ihn da keine Schuld trifft.

Ja, das glaube ich auch. Ich mache auch Jürgen überhaupt keinen Vorwurf. (Sorry, wenn’s so rüberkam!) Wenn das stimmt, was wir _glauben_, dann gebührt in jedem Fall dem Betreuer eine ordentlich Rüge, weil er es versäumt hat, das Design richtig mit Jürgen durchzusprechen (dann hätte Jürgen diese Fragen nicht mehr haben können!) und ihm die nötigen Kenntnisse zu vermitteln.

Wir kennen beide
die Details nicht und sollten uns kein Urteil darüber
erlauben, ob die ob das Exp.-Design gut oder schlecht war.

Korrekt. Das mache ich auch nicht. Also, wirklich, ich will nochmal klarstellen, dass ich Jürgen NICHT verurteile und das Design auch nicht beurteile. Das steht mir ganz klar nicht zu, und sowas liegt sicher nicht in meiner Absicht! Ich schreibe hier, um zu Helfen, um Denkanstösse zu geben und um zu Motivieren. Vielleicht mache ich das auch nicht immer gut. Nobody is perfect. Daher bin ich auch dankbar für entsprechende Rückmeldungen, die mir Gelegenheit geben, Fehler zu erkennen, nicht wieder zu begehen oder gar zu korrigieren.

LG
Jochen

Hallo ihr zwei,

also ich wollte ja net, daß ihr euch wegen meiner Sache dort in die Haare bekommt! Finde aus beiden Denkansätzen viele gute Tipps die ich evtl. nicht berücksichtigt hatte und werde denen dann mal nachgehn.

Ja, das glaube ich auch. Ich mache auch Jürgen überhaupt
keinen Vorwurf. (Sorry, wenn’s so rüberkam!) Wenn das stimmt,
was wir _glauben_, dann gebührt in jedem Fall dem Betreuer
eine ordentlich Rüge, weil er es versäumt hat, das Design
richtig mit Jürgen durchzusprechen (dann hätte Jürgen diese
Fragen nicht mehr haben können!) und ihm die nötigen
Kenntnisse zu vermitteln.

Muß ich leider zustimmen! Wie dich Professoren (und dazu noch ein Physiker) nun halt mal sind, bekommt man immer 2 oder 3 Wörter in den Raum geworfen (wie dem Hund einen Knochen) und soll daraus das rad neu erfinden. Muß zugeben, ein normaler Ingenieur (wie ich einer bin) kann die genauen Gedankengänge von einem Physiker oder Mathematiker nicht immer recht interpretieren, leider :frowning:.

Das ganze Ziel dieser Fragen die ich gestellt hatte war eigendlich, dass ich beim Schlußbericht eine Aussage über den Gesamtfehler der Schaltung (komplexe Platine) machen kann (mit Hilfe dieser Messwerte).

Klar kann ich einfach für jede Messreihe und jede Prüfspannung den arithmetischen Mittelwert, Standardabweichung und Meßunsicherheit ermitteln. Da aber die Messwerte (also meine Wiederstandswerte) jeder einzelnen Prüfspannung (alle Werte von 5V, 10V, 20V…) später in einer komplexen Gleichung (pro Prüfspannung eine seperate Gleichung) wieder auftauchen, wollte ich halt eben den Gesamtfehler für jede einzelne Prüfspannung haben, um diesen Fehler dann mit den anderen Fehlern (schon bekannte Fehler)der komplexen Gleichung per gaussscher Fehlerfortpflanzung zu verrechnen!

Ohje, is das en Wirrwar! …Sorry, wenn ich jetz schon wieder was kompliziertes (oder auch unverständliches) geschrieben hab!!

Aber euren Tipps werd ich auf jeden Fall mal nachgehn! Vielen Dank schonmal für eure Bemühungen!!

MfG
Jürgen

P.S.: Ich hab das Talent, andere Leute mit meinen Aussagen und Beschreiungen zu verwirren, meint auch meine Freundin! Also habt bitte Gedult mit mir!!! :smile: