Hallo Fragewurm,
sorry, aber ich sehe das anders. nimm eine simple komponente
wie beispielsweise einen elco. dem ist es nicht egal, ob er
stromlos und bei raumtemperatur „herumsteht“, oder ob er
„unter dampf“ steht und/oder bei einer höheren temperatur
(gerade bei elcos hat schon jedes einzelne grad mehr einfluss
auf die lebenserwartung), wie es im betriebsfall normal ist.
Bei Elcos verdoppelt sich die Lebensdauer in etwa pro 10K
weniger.
ja, ich weiß. das ist der daumenwert, den man überall lesen kann. ist aber eine gute näherung
Allerdings entstehen beim Einschalten hohe Stossströme, welche
den Elcos auch zusetzen. Das sieht man auch in den
Datenblättern von Gleichrichterdioden und Ladeelcos. Es gibt
einen repetitiven und einen nicht repetitiven (fĂĽr eine
Halbwelle) maximalen Strom.
jein. es stimmt, wenn man sich die ladekurve eines kondensators ansieht. aber das ist ja nur die eine seite der medallie: man benötigt ja auch eine quelle, die das liefern kann. ist das eine batterie, dann stimmt das wohl, ist das ein schaltregler, dann läuft der ja recht schnell an den poller. außerdem haben ja auch „vorwiderstände“ eine begrenzende wirkung. das wird ja auch bei allen lebensdauerberechnungen berücksichtigt.
Das Ganze ist aber wesentlich komplexer 
jupp, aber ein einfaches beispiel, dass die theorie mit dem „laufen lassen schadet nicht“ widerlegt, hatte ja gereicht.
Wen es interessiert kann hier die Fehlerursachen fĂĽr
Halbleiter nachlesen:
Renesas Reliability Handbook
http://documentation.renesas.com/doc/products/others…
ja, das ist ein gutes handbuch.
Ich hatte frĂĽher von National Semiconductor und Fairchild auch
noch detaillierte Reporte mit konkreten Zahlen zu den
Ausfällen verschiedener Lose. Muss ich gelegentlich mal sehen
obs diese noch im Netz gibt.
ja, die geistern immer noch rum. genauso wie das gute alte mil-hdbk.
problem ist eigentlich immer, dass jeder seine eigene methode hat, die daten zu erfassen. die einen nutzen H.A.S.T., die anderen feldrückläufer usw. macht die sache schwer vergleichbar.
Bei den mechanischen Laufwerken ist es auch so eine Sache!
ja, aber mechanische teile in einem elektrischen system ziehen die zuverlässigkeit immer runter, weil sie einem anderen ausfallmechanismus folgen. die badewannenkurve trifft hier nicht zu. lebensdauerberechnungen sind ein tolles thema - aber auch sehr komplex. und wie du schon angemerkt hast: eine alles zusammenfassende aussage gibt es nicht. es gibt eben teile, für die wäre dauerbetrieb sicherlich sinnvoller, aber es gibt eben auch teile, für die das eher schädlich ist. leider kann man das im pc nicht aufteilen…
Praktisch kann man aber feststellen, dass die meisten Geräte
beim Aus- oder Anschalten kaputt gehen. Man fährt den PC
runter und am nächsten Tag startet er dann nicht mehr. Diese
Erfahrung kenne ich auch von anderen Geräten, besonders in der
Industrie. Die Geräte laufen Jahrelang 24/7 und wenn man sie
mal wirklich abschaltet …
die meisten leute sterben auch im krankenhaus - und niemand verbietet krankenhäuser 
die frage ist doch aber was das system stärker schädigt. dauer-an oder anschalten bei bedarf.
Ăśbrigens hatte ich viele, meist ganz normale Festplatten,
welche bei mir gute 10 Jahre problemlos im Dauerbetrieb
durchgehalten haben.
ja, die dinger sind mittlerweile schon ziemlich gut.